凱基特視覺(jué)表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)基本組成主要包括圖像獲取模塊、圖像處理模塊、圖像分析模塊、數(shù)據(jù)管理及人機(jī)接口模塊。圖像獲取模塊由CCD攝像機(jī)、光學(xué)鏡頭、光源及其夾持裝置等組成，其功能是完成產(chǎn)品表面圖像的采集。在光源的照明下，通過(guò)光學(xué)鏡頭將產(chǎn)品表面成像于相機(jī)傳感器上，光信號(hào)先轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，進(jìn)而轉(zhuǎn)換成計(jì)算機(jī)能處理的數(shù)字信號(hào)。目前工業(yè)用相機(jī)主要基于CCD或CMOS(complementary metal oxide semiconductor)芯片的相機(jī)。CCD是目前機(jī)器視覺(jué)最為常用的圖像傳感器。

凱基特視覺(jué)表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)基本組成主要包括圖像獲取模塊、圖像處理模塊、圖像分析模塊、數(shù)據(jù)管理及人機(jī)接口模塊。圖像獲取模塊由CCD攝像機(jī)、光學(xué)鏡頭、光源及其夾持裝置等組成，其功能是完成產(chǎn)品表面圖像的采集。在光源的照明下，通過(guò)光學(xué)鏡頭將產(chǎn)品表面成像于相機(jī)傳感器上，光信號(hào)先轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，進(jìn)而轉(zhuǎn)換成計(jì)算機(jī)能處理的數(shù)字信號(hào)。目前工業(yè)用相機(jī)主要基于CCD或CMOS(complementary metal oxide semiconductor)芯片的相機(jī)。CCD是目前機(jī)器視覺(jué)最為常用的圖像傳感器。

凱基特視覺(jué)表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)還可以用在高精度外形尺寸檢測(cè)，尤其在一些動(dòng)態(tài)檢測(cè)鍍鎳（鋅）零件（圓片或圓環(huán)）的尺寸應(yīng)用中，解決了用戶大批量生產(chǎn)該種零件做人工質(zhì)量檢測(cè)時(shí)速度慢、精度不統(tǒng)一、勞動(dòng)量大的問(wèn)題。
對(duì)于有圖紋和不同色彩圖案的產(chǎn)品的檢測(cè)，該系統(tǒng)可以有效的控制產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程中的廢品率，提高產(chǎn)品的精品率，比如硬幣、紀(jì)念幣的質(zhì)量檢測(cè)以及彩色幣的顏色檢測(cè)等。